產品特點
最小檢測錫膏:>50μm
檢測速度:600ms/FOV(解析度3-5μm)
可量化輸出偏移量、旋轉角度、共線性等值
可以據工藝定制光源
可檢測項目
高度、體積、面積、漏印、多錫、少錫、連錫、
形狀不良、偏移